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激光粒度儀作為一種新型的粒度測試儀器，已經(jīng)在粉體加工、應(yīng)用與研究領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。它的特點是測試速度快、測試范圍寬、重復(fù)性和真實性好、操作簡便等。是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。激光粒度儀的光路由發(fā)射、接受和測量窗口等三部分組成。發(fā)射部分由光源和光束處理器件組成，主要是為儀器提供單色的平行光作為照明光。接收器是儀器光學(xué)結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵...

激光粒度儀是指經(jīng)過顆粒的衍射或散射光的空間散布(散射譜)來剖析顆粒大小的儀器。激光粒度儀作為一種新型的粒度測試儀器，曾經(jīng)在粉體加工、應(yīng)用與研討范疇得到普遍的應(yīng)用。激光粒度儀是用物理的辦法測試固體顆粒的大小和散布的一種儀器。依據(jù)測試原理的不同分為沉降式粒度儀、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計數(shù)器、顆粒圖像儀等。激光粒度儀的特性是測試速度快、測試范圍寬及操作煩瑣。它可停止從納米到微米量級如此寬范圍的粒度散布，不只能丈量固體顆粒，還能丈量液體中的粒子。與傳統(tǒng)辦法相比，激光粒度儀測試過程不受溫...

粒度儀作為一種新型的粒度測試儀器，已經(jīng)在粉體加工、應(yīng)用與研究領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。它的特點是測試速度快、測試范圍寬、重復(fù)性和真實性好、操作簡便等等。它是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以一束平行的激光在沒有阻礙的無限空間中將會照射到無限遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。當(dāng)光束遇到顆粒阻擋時，一部分光將發(fā)生散射現(xiàn)象。散射光的傳播方向?qū)⑴c主光榮的傳播方向形成一個夾角θ。散射理論和結(jié)果證明，散射角θ的大小與顆粒的大...

激光粒度儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器，采用衍射及散射理論，測試過程不受溫度變化、介質(zhì)黏度，試樣密度及表面狀態(tài)等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現(xiàn)于激光束中，即可獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果。激光粒度儀的定義有幾層含意？（1）將待測顆粒的某種物理特性或物理行為與同質(zhì)球體作比較時，有時能找到一個（或一組）在該特性上*相同的球體（如庫爾特計數(shù)器），有時則只能找到較相近的球體。由于理論上可以把“相同”作為“相近”的特例，所以在定義中用“相近”一詞，使...

顆粒圖像分析儀是新一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備，它采用創(chuàng)新的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論*結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。此外，該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標(biāo)志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定，是顆粒粒度測試及粒形分析的選搭檔和得力助手。顆粒圖像分析儀的性能特點：1、直觀反映顆粒形貌將顆粒的表面形...

粒度分析理論從原理、結(jié)構(gòu)、報告解讀、參數(shù)拾遺四個維度對粒度激光分析儀進(jìn)行了條分縷析，耐克特設(shè)備分享的粒度激光分析儀能特點是相較于以下前3類儀器而言的。激光粒度儀導(dǎo)論之性能特點是什么呢？這里所謂的“性能特點”，是粒度激光分析儀相對于其他原理的粒度測量儀器而言的。除粒度激光分析儀外，當(dāng)前市面上主流的粒度儀還有：（1）顆粒圖像儀，分為動態(tài)和靜態(tài)兩類；（2）電阻法（Electricsensingzone或Electricresistance）顆粒計數(shù)器；（3）沉降法粒度儀，按照沉降力...

激光粒度儀價錢的丈量原理請求在測試過程中，樣品的濃度以樣品中顆粒之間互相不發(fā)作二次散射為準(zhǔn)繩，理論上就是請求懸浮液或者空氣中顆粒之間的間隔為顆粒直徑的3倍,但是這個請求十分難以控制，因而在實踐的粒度測試中，經(jīng)過調(diào)整遮光比的數(shù)值來盡量保證顆粒之間不發(fā)作二次散射。遮光比不宜過大(超越50%)或者過小(低于0.5%)，遮光比過大時，顆粒的濃渡過高，容易發(fā)作二次散射，丈量結(jié)果誤差增大;遮光比過低，樣品中顆粒的濃度太低，顆粒數(shù)太少，測試結(jié)果的代表性很差，以至可能招致測試結(jié)果是無效的，因...