激光粒度測(cè)試儀是通過(guò)顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來(lái)分析顆粒大小的儀器,采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測(cè)試過(guò)程不受溫度變化、介質(zhì)黏度,試樣密度及表面狀態(tài)等諸多因素的影響,只要將待測(cè)樣品均勻地展現(xiàn)于激光束中,即可獲得準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。
激光粒度測(cè)試儀對(duì)中調(diào)整方法:
對(duì)中調(diào)整是通過(guò)調(diào)整儀器正面,測(cè)試窗口下面的2個(gè)“對(duì)中旋鈕”來(lái)改變“傅里葉透鏡”的偏移位置,從而使得激光打在0號(hào)探測(cè)單元上。
調(diào)整對(duì)中旋鈕,激光會(huì)相應(yīng)發(fā)生偏移,因此我們需要隨時(shí)觀察“背景光能分布”窗口上光柱的運(yùn)動(dòng)情況。
調(diào)整對(duì)中旋鈕,使得激光向0環(huán)方向偏移上旋鈕向左偏移向上偏移向右偏移激光下旋鈕調(diào)整“下旋鈕”方法與“上旋鈕”的一致。
當(dāng)“下旋鈕”調(diào)整激光接近0號(hào)探測(cè)單元,0環(huán)附近的1環(huán)2環(huán)都很高此時(shí),說(shuō)明激光已經(jīng)接近0號(hào)探測(cè)單元。繼續(xù)向逆時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn),如果發(fā)現(xiàn)光柱反而遠(yuǎn)離0環(huán)此時(shí)應(yīng)略微回調(diào)。
向下偏移調(diào)整對(duì)中時(shí),我們可以先調(diào)上旋鈕,或者下旋鈕。選擇其中一個(gè),并邊調(diào)邊觀察“背景光能分布”窗口。
先調(diào)整“上旋鈕”,逆時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn),如果發(fā)現(xiàn)光柱向左運(yùn)動(dòng)說(shuō)明激光正向著0環(huán)位置偏移。調(diào)整到一定位置時(shí),由于激光已經(jīng)處于zui接近0號(hào)探測(cè)單元,如果繼續(xù)調(diào)整,激光反而遠(yuǎn)離0號(hào)探測(cè)單元,光柱反而會(huì)向右運(yùn)動(dòng)或者光柱消失,調(diào)過(guò)頭了。此時(shí)應(yīng)該略微回調(diào),讓光柱恢復(fù)到之前zui接近0環(huán)的位置。