原標題;各種常用粒度測試方法各有那些優(yōu)缺點
粉體材料有很多物理指標,主要反映在組成粉體材料顆粒的一些參數,包括粒度、粒形、表面積、孔徑、帶電特性以及堆積性能和流動性能等。粒度測試是一門跨學科、跨領域技術,它需要面向幾十個領域中的各式粉體和千差萬別的用戶,因此要求從事顆粒測試工作的人員具有豐富的理論知識和實踐經驗。其中理論知識包括顆粒學、物理學、化學、材料學、力學、機械學、電子學和計算機學等諸多學科,實踐經驗則需要逐漸積累,在工作和學習中逐步提高,因此粒度檢測是一項專業(yè)性和實踐性都很強的工作。
(1) 激光法:
優(yōu)點:操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復性和準確性好,可實現(xiàn)在線測量和干法測量。
缺點:結果受分布模型影響較大,儀器造價較高。
(2) 動態(tài)圖像法:
由顯微鏡、高速攝像機、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。優(yōu)點:顆粒圖像直觀清晰,操作簡便、拍攝與分析速度快、重復性和準確性好,可干法也可濕法,可測量大顆粒,可進行圓形度、長徑比等形貌分析。
缺 點:分析細顆粒(如-2 μm )圖像不清晰,誤差較大,成本較高。
(3) 靜態(tài)圖像法:
由顯微鏡、攝像機和圖像分析軟件組成。優(yōu)點:成本較低,操作簡單,圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點:分析速度慢,無法分析細 顆粒(如-2 μm )。
(4) 電鏡法:
用電子顯微鏡(掃描電鏡或透射電鏡)拍攝顆粒圖像,然后再進行圖像 分析的方法。優(yōu)點:能精確分析納米顆粒和超細顆粒,圖像清晰,表面紋理可見,分辨率高,是表征納米材料粒度的標準方法。
缺點:單幅圖像中的顆粒數少、代表性差、儀器價格昂貴。
(5) 光阻法:
優(yōu)點:測試速度快,可測液體或氣體中顆粒數,分辨力高,樣品用量少。
缺點:進樣系統(tǒng)比較復雜,不適用粒徑<1μm 的樣品。
(6) 電阻法:
優(yōu)點:操作簡便,可測顆粒數,等效概念明確,速度快,準確性好。
缺點:不適合測量超細樣品和寬分布樣品,更換小孔管比較麻煩。
(7) 沉降法:
優(yōu)點:操作簡便,儀器可以連續(xù)運行,價格較低,準確性和重復性較好,測試范圍較大。
缺點:測試時間較長,操作較復雜,結果易受環(huán)境因素影響。
(8) 篩分法:
優(yōu)點:簡單、直觀、設備造價低,常用于大于 38 μm ?。?00 目)的樣品。
缺點:不能用于超細樣品;結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(9) 動態(tài)光散射法:
動態(tài)光散射法是測試納米材料粒度分布的常用方法。首先將納米顆粒放到合適的液體(通常為純凈水)中制成懸浮液,懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運動(布朗運動)的碰撞而進行不規(guī)則運動。當一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時,會在引起的散射光強的瞬間變化。這些瞬間變化的散射光信號的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關,對這些信號進行相關運算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了。.
優(yōu)點:測試范圍寬(從納米到微米)、測試速度快,重復性好,操作簡便。缺點:測試寬分布的納米材料誤差及較大。
(10)超聲波法:
優(yōu)點:可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,無需取樣。缺點:分辨率較低,準確性和重復性較差,結果受環(huán)境因素影響較大。
(11)透氣法(費氏法):
優(yōu)點:儀器價格低,不用對樣品進行分散,可直接測量干粉,可測磁性材料粉體。
缺點:只能得到平均粒度值,不能測粒度分布。