粒度粒形分析儀是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和較強(qiáng)的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。  

實(shí)驗(yàn)原理：  

粒度粒形分析儀是利用粒子的布朗運(yùn)動，根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的，是一種比較通用的粒度儀。其特點(diǎn)是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對粒度均勻的粉體，比如磨料微粉，要慎重選用。  

集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)技術(shù)，具有測量速度快、動態(tài)范圍大、操作簡便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)已成為流行的粒度測試儀器。  

作為一種新型的粒度測試儀器，已經(jīng)在其它粉體加工與應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。它的特點(diǎn)是測試速度快、重復(fù)性好、準(zhǔn)確性好、操作簡便。對提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低能源消耗有著重要的意義。  

粒度粒形分析儀功能及特點(diǎn)：  

可對高速運(yùn)動狀態(tài)下的顆粒進(jìn)行清晰的粒形和粒度分析，從不同的方向測試顆粒的形狀，保證被測試樣品的代表性。  

高效、簡潔的模塊化設(shè)計(jì)，讓不同的分散系統(tǒng)和圖形分析系統(tǒng)自由組合，完成不同應(yīng)用領(lǐng)域的測試要求，比如對粉狀物料、懸浮液、纖維狀物料、透明晶體的粒形粒度分析。  

可達(dá)到亞微米級的高清晰度、高精度的粒形和粒度大小同步測試。  

高達(dá)400萬像素的CMOS成像系統(tǒng)，可以保證清晰的得到每一個(gè)顆粒的粒形信息。  

每秒高達(dá)500幅圖片的成像速度，可以快速的獲得大量的顆粒粒度信息，并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。  

可以用于顆粒的計(jì)數(shù)應(yīng)用。